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日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K100 系列具有更長(zhǎng)的行程和更高的負(fù)載，使其*適合于安裝板檢查。 間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對(duì)于每個(gè)間距，您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負(fù)載。您可以選擇*適合您需求的型號(hào)。 專為半導(dǎo)體測(cè)試中大電流、高機(jī)械應(yīng)力場(chǎng)景優(yōu)化，適用于嚴(yán)苛環(huán)境下的PCB功能測(cè)試、功率模塊驗(yàn)證及老化測(cè)試。

日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 K075 與標(biāo)準(zhǔn)型相比，該彈簧探針系列具有更長(zhǎng)的行程和更高的負(fù)載 使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對(duì)于每個(gè)間距 您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負(fù)載。您可以選擇*適合您需求的型號(hào)。

日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型 KITA K050 是介于微型化與高負(fù)載之間的 平衡型彈簧探針 以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點(diǎn)，適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導(dǎo)體測(cè)試場(chǎng)景。

日本KITA半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針高負(fù)荷型K039與標(biāo)準(zhǔn)型相比，該彈簧探針系列具有更長(zhǎng)的行程和更高的負(fù)載. 使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對(duì)于每個(gè)間距，您不僅可以選擇柱塞*形狀，還可以選擇負(fù)載。 KITA K039 是一款微型高負(fù)荷彈簧探針，專為半導(dǎo)體PCB測(cè)試中的 高密度、高精度接觸需求 設(shè)計(jì).

日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對(duì)PCB（印刷電路板）測(cè)試（如ICT、FCT）設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針（Test Probe）. 以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結(jié)構(gòu)為特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域的測(cè)試環(huán)節(jié)。

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針高頻KPS040-004CA適用于0.5mm和0.8mm間距的高頻產(chǎn)品。 1.5 毫米（使用時(shí)為 1.1 毫米）的短長(zhǎng)度可通過短路徑長(zhǎng)度實(shí)現(xiàn)低損耗。 采用高導(dǎo)電材料（如鍍金銅合金）減少信號(hào)傳輸損耗，確保高頻信號(hào)的完整性。

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針大電流、高溫是彈簧探頭耐高溫200°C，在高溫、大電流測(cè)試環(huán)境中表現(xiàn)出色。 其產(chǎn)品尤其擅長(zhǎng)應(yīng)對(duì)大電流和高溫環(huán)境，適用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、晶圓測(cè)試、封裝測(cè)試等嚴(yán)苛場(chǎng)景。

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針非磁性是該彈簧探頭由非磁性材料制成，可用于必須消除磁性影響的測(cè)試環(huán)境。 適用于磁敏感環(huán)境（如MRI設(shè)備、高精度傳感器測(cè)試）或避免磁化污染的半導(dǎo)體測(cè)試。

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）適用于高精度測(cè)試中使用的 4 端測(cè)量的彈簧探頭。 使兩個(gè)探針與半導(dǎo)體器件的一個(gè)端子接觸。探頭間距有 0.3、0.4、0.5mm 三種可選。

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針細(xì)間距（0.15~0.25mm間距）應(yīng)用中扮演著關(guān)鍵角色. 主要用于高密度互連測(cè)試（如晶圓測(cè)試、芯片測(cè)試、PCB測(cè)試等） 彈簧探針內(nèi)置于 IC 插座中，作為將被測(cè)設(shè)備垂直連接到電路板的電路。實(shí)現(xiàn)了低阻力、高耐久性。